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等離子電子/氣體密度分布測試系統是等離子體研究的一個重要課題，等離子作為一個非常復雜的體系，診斷手段有很多種，其中光譜學是常用的手段；而等離子體電子密度分布，也是等離子體診斷一個重要的課題

光學元件形貌測試系統是Phasics推出的一款多波長動態干涉儀，該產品應用了Phasics的橫向四波剪切干涉技術,可以實現動態的波前測量，從而快速得到樣品的表面形貌信息;而且該技術的自消色差的特性,讓系統可以支持多個工作波長,有效避免傳統干涉儀測試波長跟工作波長不同帶來的誤差問題，特別針對濾光片，可以實現傳統干涉儀無法實現的TWE的測試。

鏡頭MTF測試系統設備采用Phasics的四波剪切干涉傳感器，在405nm~940nm多種波長光源可選，而且同時最多可以配置8個波長的光源。

激光損傷閾值測試系統不同激光器類型，損傷的機理并不一致；對于連續激光器，通常是熱積累導致的損傷；而對于脈沖激光器，則存在多重的損傷機制，而且不同脈寬的激光器，占主導的損傷機制并不相同。